El objetivo de este trabajo es la caracterización mediante difracción de rayos X (DRX), espectroscopía infrarroja (FTIR), espectroscopía Raman, y microscopía electrónica de transmisión (HRTEM-AEM) de tobelita formada a partir de caolinita a menor temperatura que en trabajos previos (200ºC) y a la presión equivalente a la del vapor de agua a esa temperatura (15.54 MPa).
Este trabajo forma parte de una investigación más extensa sobre la tobelita sintética en diferentes sistemas químicos, para analizar la posible laguna de miscibilidad en la serie tobelita-moscovita y la capacidad de la tobelita sintética para alojar cationes divalentes en la capa octaédrica.
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